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高壓在片測試系統

產品詳情


產品簡介

高壓在片測試系統專為研發設備表征/建?;蚶a應用而設計,可在-60°C 至 +300°C溫度范圍內進行精確的電氣測量,適用于超低噪聲,DC,RF,mmW和THz應用,并具有半自動和全自動操作,可用于最快時間獲取準確數據。

采用PureLine、AutoGuard 和新一代 MicroChamber 技術實現高準確度 IV/CV、低噪聲和 1/f 測量的最佳解決方案

可配置功率電平:

? 200V 至 3kV

? 1A 至 100A

寬動態范圍:

? μV 至 3kV

? fA 至 100A

全量程容-電壓 (C-V) 能力:

? fF 至 μF

? 支持2、3 和 4 端器件

? 高達3kV DC 偏移


典型配置

2600-PCT-xB 高功率參數測試儀

SUMMIT200全自動探針臺


產品應用

IV/CV,RF/mmW,失效分析,WLR,MEMS

MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件開發應用



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