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光電在片測試系統

產品詳情


與Keysight光子學應用全面交鑰匙集成測量系統

產品簡介

業界最高效、最精確的晶圓級光子測量系統

測試工程師的目的是進行測量。由于硅光子學測量的復雜性,一個集成的、經驗證的解決方案將幫助工程師在長期開發項目上節省寶貴的時間。我們已經開發了所有的工具、夾具和校準技術,使您能夠在數小時內而不是數月或數年內測量光子器件。FormFactor的自動硅光子學測量輔助工具和Keysight儀器提供了高度靈活的解決方案,能夠快速轉換多種測試需求,從單光纖到陣列,從垂直耦合到邊緣耦合。我們的光子集成套件和革命性的OptoVue校準套件將在安裝后立即為您提供經生產驗證的優化光學測量。

實現高質量測量最快捷、最安全、最經濟的途徑

預驗證、交鑰匙、全面的、集成的FormFactor測量系統,可為重要的測試應用提供安心和即時、開箱即用的生產力。

可免費提供這些益處。 FormFactor的IMS解決方案沒有對Keysight產品或集成費用的加價。

世界上唯一晶圓級光子學系統,其建立于研發儀器儀表行業的第一領導者和分析探測系統的第一領導者基礎之上— the FormFactor IMS-K-SIPH.

套裝硬件和軟件

FormFactor和Keysight應用專家將一起幫助您配置一個強大、完整的解決方案,包括:

  • FormFactor探測系統:CM300xi, SUMMIT200, MPS150(其他可選)

  • 手動、半自動和全自動探針臺選項

  • FormFactor工程探針:手動或電動定位器上的RF和DC探針

  • FormFactor集成單面、雙面或三面HexNano光學定位

  • FormFactor光子學自動化軟件:用于自動光學定位器校準和控制的SiPh工具,和光子學控制器接口

  • 從-40℃到+125℃的全溫度范圍自動變溫測量

  • 可調諧激光器、功率表和偏振合成器:Keysight N7776C、N7778C、N7744C、N7745C、N7786C、N7788C(其他可選)

  • 模塊化激光器:Keysight 81606A、81607A、81608A和81602A(其他可選)

  • Keysight半導體參數分析儀或用于光電轉換(O-E)的PXIe SMUs:B2901A、B1500A、M9601A PXI SMU(其他可選)

  • Keysight測試和自動化軟件:光子應用套件(PAS)、帶FormFactor晶片測試插件的PathWave測試自動化平臺

  • 完成系統需增加:電纜、適配器、安裝硬件等。


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