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150mm探針臺200mm探針臺300mm探針臺大功率探針臺硅光探針臺低溫探針臺探針與針座探針臺功率放大器場強測量電波暗室混響室OTA測試暗室橫電磁波室GJB151A/B標準測試RTCA DO-160G標準測試電磁兼容民用設備測試系統電磁兼容測試失效分析測試設備半導體封裝設備信號源頻譜分析儀/信號分析儀矢量網絡分析儀功率探頭&功率計示波器阻抗調諧器電源直流測試誤碼儀采樣示波器光源光開關光濾波器光衰減器光功率計光譜儀光波元器件分析儀時鐘恢復(CDR)光波長計OTDR光芯片測試系統測試儀器儀表Maury Microwave射頻微波測試附件國產射頻微波測試附件電磁兼容測試附件FormFactor/Cascade探針臺測試附件測試附件THz在片測試系統WAT測試系統高壓在片測試系統光電在片測試系統硅光在片測試系統射頻在片測試系統失效分析在片測試系統在片負載牽引測試系統直流在片測試系統自動測試軟件晶圓在片測試系統AM3200系列Pulsed IV測試系統MT1000/MT2000 系列有源負載牽引測試系統電源自動測試系統多通道超寬帶信號生成和測試解決方案數據采集系統設備微波射頻前端半實物協同仿真平臺無源-有源混合負載牽引測試系統射頻微波測試系統和解決方案電波暗室GTEM橫電磁波室混響室OTA測試暗室汽車整車及零部件EMC測試系統電磁兼容民用設備測試系統電磁兼容測試系統和解決方案維修租賃現貨代測行業資訊社會新聞公司簡介聯系我們招賢納士

硅光在片測試系統

產品詳情


產品簡介

硅光在片測試系統主要由CM300xi-SiPh 300 mm探針臺組成,CM300xi-SiPh 300 mm探針臺是市場上首個經過驗證的集成測量解決方案,可在安裝后立即進行經過生產驗證的優化光學測量,無需進一步開發。該探針臺支Contact Intelligence?,這是一種創新技術,能夠檢測環境變化并作出反應,以優化探針接觸準確度,從而實現自主型半導體測試。


產品特性

  • 自動化校準和對準

  • 自動化光學探針校準

  • 獨特的樞軸點校準

  • 光學掃描、梯度搜索功能和子晶片管理用于實現組合型光學和自動化電氣探測

  • 采用光導技術的可再配置光纖臂

  • 針對工程和批量環境的靈活性

  • 可在單個光纖和光纖陣列之間進行配置

  • 專門設計的Z 軸位移套件可調節晶圓和光纖之間的距離


典型配置

CM300xi-SiPh 300 mm探針臺

光學顯微鏡

光纖準直系統


產品應用

硅光子學



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