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射頻在片測試系統

射頻在片測試系統
產品詳情

產品簡介

Formfactor的RFgenius晶圓上S參數測量包,括以合理的價格實現精確測量所需的所有關鍵組件 – 從探測站到網絡分析儀。所有這些都經過驗證并證明可提供領先的性能測量。這個入門級系統是大學和學校的完美,易于購買的選擇,實驗室空間最小。

RFgenius軟件包包括執行高度精確測量的所有關鍵組件。不僅是探針臺,探針,定位器,電纜,校準基板和校準軟件,還有矢量網絡分析儀(VNA) – 業界首創。

該解決方案的性能范圍得到了進一步增強,遠遠超出了簡單的產品包。這些組件的完美集成,與先進的人體工程學設計和易于操作的控制相結合,確保了最佳的可用性和高度精確的測量。

標準配置

  1. 150毫米手動探針臺

    • RF卡盤+/-3μm表面平面度

    • 獨特的200μm壓板接觸/分離行程,精度小于或等于1μm,可重復接觸

    • 精準的探針對準

    • 一致的接觸力和超行程

    • 穩定的接觸性能

  1. 是德科技VNA

    • 寬頻率覆蓋范圍:4.5,6.5,9,14,20,26.5 GHz

    • 全2端口VNA

    • 小巧緊湊的外形

    • 所有可靠的Keysight VNA都具有相同的校準和計量功能

    • Keysight VNA的通用GUI

    • 能夠擴展端口數量

  1. 探頭和電纜

    • 無限探頭– 最適合AI(Si)

    • ACP探針– 最適合AU(III-Vs)

    • | Z | 探測– 堅固的解決方案,使用壽命長

    • 精確接觸各種材料

    • 準確的測量結果和卓越的串擾特性

    • 包含了匹配的電纜和襯底

  1. 校準工具

    • 獨有的 1、2、3 和 4 端口晶圓上校準算法

    • 自動化校準監視

    • 獨特的測量和分析方法

    • 準確的S參數測量

    • 自動校準設置用于提高效率

    • 簡便快捷的數據解釋和報告

完整的軟件包,以及可用的支持,安裝和培訓。


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