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直流在片測試系統

直流在片測試系統
產品詳情


Easy – flexible – future proof:Customize your 150 mm probe station based on flexible modules at an incredible price.

產品簡介

對于幾乎所有的器件類型和半導體技術, DC參數測量貫穿于半導體產品開發和生產的每個階段。精確且可重復的直流參數測量(IV,CV,脈沖和高功率)可降低不確定性。

測試完整性面臨各方面的威脅

大量因素可能會破壞直流電性測試。由于外部環境的影響,電噪聲可能出現在數據中 - 例如,來自蜂窩網絡,無線電/電視塔和附近電子設備的電磁干擾和射頻干擾,以及溫度和振動等物理因素。

測試系統內部的因素也會影響結果 - 例如,設計不良的信號路徑產生的漏電流,電阻或熱電壓偏移,材料能量存儲以及來自于基本的探針臺系統組件的電噪聲,如電源,平臺電機,溫控系統和電腦。

如果管理不當,這些因素會導致數據偏移和整個樣本集的統計分布增加,從而嚴重降低電性能。糟糕的數據是昂貴的 - 重新測試的時間,額外的建模周期,延遲的產品發布以及性能不佳的產品。


產品特性

同軸電纜–直流參數測試,低至pA級別

  • 可移動壓板,高度調節為40 mm,接觸/分離行程為200μm,重復精度為±1μm

  • 卡盤載物臺具有可調節的摩擦力和載物臺鎖,獨特的Z卡盤調節和90毫米拉出

  • 電磁定位器具有1μm的功能分辨率和3個帶有精密滾珠軸承的線性軸


產品手冊 下載


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